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简要描述：半导体冷热台与各类显微镜、光谱仪、扫描电镜等光学仪器设备联用，进行变温下的光学观察及测试。 实现样品开放式 / 气密 / 真空环境下的变温光学观察及测试。
产品型号：CKL150-30产品产地：更新时间：2025-10-30访 问 量：1942产品分类
详细介绍
半导体冷热台采用半导体冷热控制，配合循坏水散热，实现从-30~150℃（选型）的控温。可以实现变温光学测试，或者选配探针实现变温电学测试。
二、仪器主要技术参数：
型号 | CKL120 - 30 | CKL150 -30 | |
冷热方式 | 半导体，配低温循环水 | ||
温控范围 | -30~120℃（可定制） | -30~150℃（可定制） | |
温度稳定性 | ±0.1（可定制） | ||
温度分辨率 | 0.1℃ | ||
升降温速率 | 0~10℃/min（可调） | ||
温控方式 | PID | ||
温度传感器 | PT100 | ||
光路* | 反射光路（可升级为透射光路，可定制） | ||
视窗材质* | 石英玻璃（可定制） | ||
视窗尺寸* | Φ25mm（可定制） | ||
物镜工作距离* | 4mm（可定制） | ||
透光孔* | 默认无透光孔（可升级透光孔（1.7mm），可定制） | ||
样品台尺寸* | 45×45mm（可定制） | ||
样品台材质* | 铜质（可定制） | ||
样品腔高度* | 3mm（可定制） | ||
腔室* | 气密（可升级真空，可定制） | ||
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